Cryogenic Characterization of 22nm FDSOI CMOS Technology for Quantum Computing ICs

Bonen, S.; Alakusu, U.; Duan, Y.; Gong, M. J.; Dadash, M. S.; Lucci, L.; Daughton, D. R.; Adam, G. C.; Iordanescu, S.; Pasteanu, M.; Giangu, I.; Jia, H.; Gutierrez, L. E.; Chen, W. T.; Messaoudi, N.; Harame, D.; Muller, A.; Mansour, R. R.; Asbeck, P.; Voinigescu, S. P.